场发射扫描电镜

    场发射扫描电子显微镜（Field Emission Scanning Electron Microscopy），广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。该仪器的特点是具备超高分辨扫描图像观察能力，尤其是采用数字化图像处理技术，提供高倍数、高分辨扫描图像，并能即时打印或存盘输出，是纳米材料粒径测试和形貌观察最有效仪器。也是研究材料结构与性能关系所不可缺少的重要工具。
    指标信息： 1、场发射环境扫描电子显微镜分辨率：二次电子像高真空模式：30KV时<2.0nm 低真空模式：3KV时<3.5nm ESEM环境真空模式：30KV时<2.0nm 罗宾逊探头，北散射电子像放大倍数　12X-1,000,000X 加速电压200V-30KV 样品室真空<6×10-4－4000Pa 三种真空模式：高真空、低真空和ESEM环境模式 2、X射线能谱仪分辨率：138eV 分析范围：B5－U92。