原子力显微镜 原子力显微镜（Atomic Force Microscope）是一种利用原子，分子间的相互作用力来观察物体表面微观形貌的新型实验技术。它有一根纳米级的探针，被固定在可灵敏操控的微米级弹性悬臂上。当探针很靠近样品时，其顶端的原子与样品表面原子间的作用力会使悬臂弯曲，偏离原来的位置。根据扫描样品时探针的偏离量或振动频率重建三维图像，就能间接获得样品表面的形貌或原子成分。该设备除了在大气和液体及电化学环境下工作外，本仪器具有真空状态下的真空工作室，可在10-7 Torr水平的高真空环境或不同气氛环境中对样品进行测量。加热系统可对样品在800℃下进行处理。可对样品进行低至-120℃高至300℃的温度范围内进行测量。扫描范围：XY方向：20μm Z方向:2μm分辨率： XY方向：0.2nm Z方向:0.01nm
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